XRD_Lab

Методики
–––––––––––––––––––––
Прахова дифракция
–––––––––––––––––––––
Текстурен анализ
–––––––––––––––––––––
Остатъчни напрежения
–––––––––––––––––––––
PDF анализ
–––––––––––––––––––––
Списък на публикациите
–––––––––––––––––––––
Начало
–––––––––––––––––––––

Георги Авдеев - дисертация (виж)
Георги Авдеев - автореферат (виж)

Лаборатория „Рентгенови дифракционни методи” разполага с два генератора за високо напрежение MULLER MIKRO 111 и PW 1830. Високоволтовата част за праховия дифрактометър PW 1830 от е дарена от PANalytical с любезното съдействие на г-н Бас тер Мул.

The “X-ray diffraction methods” laboratory possesses two high voltage generators MULLER MIKRO 111 and PW 1830. The high voltage part of the powder diffractometer PW 1830 is bestowed on the lab by PANalyticalwith the kind assistance of Mr. Bas ter Mull.

––––Лабораторията е основана през 1966 година за подпомагане на научната работа в Институт по Физикохимия. Благодарение на натрупания голям опит и добрите контакти с колеги, лабораторията участва активно както със собствени изследвания, така и със сервизна дейност за ИФХ и БАН.

––––В момента лабораторията разполага с гониометър за рентгеноструктурен анализ на прахови поликристални образци производство Philips модел PW 1050 и четири кръгов дифрактометър за изследване на напрежения и текстурни ефекти PW 1048. Системите са напълно автоматизирани. Освен по-съвременното оборудване на разположение са и няколко Дебай-Шерер камери, както и камера за обратна снимка.

–––

––––Основни методики и техники за анализ, достъпни за лабораторията:

Фазов анализ на образците, присъствие на фази в малки количества;
Определяне параметри на елементарна клетка;
Количествен фазов анализ;
Определяне размера и разпределение на кристалитите;
Определяне на микро- и макро- напрежения;
Използване на различни типове лъчения в зависимост от дебелината на покритието за проявяване на зависимости между подложка и отложен слой (топотактични реакции), изследване на ефекти на преимуществена ориентация;
Структурен анализ на кристални образци;
Структурен анализ на аморфни образци с помощта на PDF;
Определяне на дебелини на тънки филми от зависимостта “количество вещество-интензитет” с помощта на изработени калибрационни криви потвърдени от RFA данни;
Изчисляване на BVS, дължини и ъгли на връзки по данни от XRD;
Визуализация на кристални структури;
Карта на електронната плътност;

––––Oбласти на интереси: рентгеноструктурен анализ, синтез и структурно охарактеризиране на нови и материали, индексиране на нови фази, уточняване на структура на нова фаза по метода на Ритвелд, наноразмерни материали, структурно охарактеризиране на наноразмерни материали, кристалографска текстура – получаване и еволюция, определяне на среден размер и разпределение на кристалити, напрежения, остатъчни напрежения.

Изключителни благодарности на фирма TermoTest_Ltd за автоматизацията на гониометъра за текстурни изследвания и отличната поддръжка на апаратурата.

Повечето налични литературни източници за рентгеноструктурен анализ и кристалография са на английски език, затова за по-голяма достъпност тази страница е на български език. Надявам се с общи усилия да успеем да направим тази страничка достатъчно пълна. Чакам препоръки и предложения за оптимизиране и допълване на наличната информация.

Георги Авдеев